井芯微申请一种扩展测试板专利，可实现对不同损耗条件下电信号的测试

2024年11月30日消息，国家知识产权局信息显示，井芯微电子技术（天津）有限公司申请一项名为“一种扩展测试板”的专利，公开号CN 119044735 A，申请日期为2024年9月。

专利摘要显示，本申请公开了一种扩展测试板，可应用于芯片测试技术领域，该扩展测试板可实现对不同损耗条件下的电信号进行测试，包括：测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件；每组所述连接器组件包括两个第一连接端、两个第二连接端以及一对差分传输线；所述第一连接端用于与芯片测试板连接，并接收电信号；所述第二连接端用于与高速示波器连接，并发送电信号；所述差分传输线一端与所述第一连接端连接，另一端与所述第二连接端连接，用于传输电信号。如此，可以通过对不同组连接器组件中的差分传输线进行区别设置，从而实现对不同损耗条件下的电信号进行信号质量的测试，进而为后期不同产品应用此芯片时的PCB设计提供参考。