井芯微电子申请基于PCIe Switch设备报文的测试方法专利，能通过FPGA原型验证系统及早发现设计缺陷

2025年5月3日消息，国家知识产权局信息显示，井芯微电子技术（天津）有限公司申请一项名为“一种基于PCIe Switch设备格式正常及异常的报文的测试方法”的专利，公开号CN119906652A，申请日期为2025年3月。

专利摘要显示，本发明提供了一种基于PCIe Switch设备格式正常及异常的报文的测试方法，利用PCIe协议分析仪及PCIe模拟器搭建测试环境，通过使用PCIe模拟器作为RC及EP设备发送报文来验证PCIe Switch设备的功能；按照预设的测试场景，执行格式正常及异常的报文测试。本发明有益效果：一种基于PCIe Switch设备格式正常及异常的报文的测试方法，通过FPGA原型验证系统，可以在流片前对PCIe Switch设备进行格式正常及异常的报文测试，及早发现设计缺陷，降低风险。

天眼查资料显示，井芯微电子技术（天津）有限公司，成立于2020年，位于天津市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本686.0743万人民币。通过天眼查大数据分析，井芯微电子技术（天津）有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目53次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息183条，此外企业还拥有行政许可3个。