崇辉半导体申请基于AOI全检设备的动态检测方法等专利，提升AOI检测的精度和效率

2025年6月17日消息，国家知识产权局信息显示，崇辉半导体（江门）有限公司申请一项名为“基于AOI全检设备的动态检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN120163787A，申请日期为2025年02月。

专利摘要显示，本申请涉及视觉检测的技术领域，尤其是涉及一种基于AOI全检设备的动态检测方法，其方法包括：获取检测台拍摄图像，对检测台拍摄图像进行识别，得到待检测器件图像和杂质图像；对杂质图像进行识别，得到水滴杂质图像，采用预设的算法所述水滴杂质图像进行除杂处理，得到待处理图像数据；从所述待处理图像数据中获取图像光源信息，根据所述图像光源信息生成自适应光源调节指令，以根据环境光照条件调节光源的方向和强度；获取所述自适应光源调节指令对应的光源调节反馈后，得到待调节阈值图像，对所述待调节阈值图像进行阈值调节算法计算后，得到元器件检测图像，并对所述元器件检测图像进行检测。

天眼查资料显示，崇辉半导体（江门）有限公司，成立于2021年，位于江门市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本20000万人民币。通过天眼查大数据分析，崇辉半导体（江门）有限公司参与招投标项目12次，财产线索方面有商标信息21条，专利信息63条，此外企业还拥有行政许可30个。