凌久微电子申请一种基于apitrace的自动化测试方法专利，将trace文件测试过程自动化

国家知识产权局信息显示，武汉凌久微电子有限公司申请一项名为“一种基于apitrace的自动化测试方法”的专利，公开号CN 120743767 A，申请日期为2025年06月。

专利摘要显示，本发明提供一种基于apitrace的自动化测试方法，包括：在远程仓库中构建trace文件数据库，覆盖所有待测试OpenGL应用程序trace文件；在本地挂载远程仓库部署trace文件数据；根据预处理参数文本，自动化生成图像数据库，对每组参考图像和目标图像进行图像匹配和像素级比对，得到图像比对结果并生成红色梯度差异图

本发明利用apitrace对OpenGL应用程序进行仿真，将原本低效耗时、无法系统形成回归测试与结果分析的trace文件测试过程自动化，用于确认图形驱动迭代时是否因为版本更新引入新问题而导致性能衰退，或者是否出现某些肉眼无法观察到的渲染异常影响OpenGL应用程序输出，提升图形驱动开发和优化的效率。

天眼查资料显示，武汉凌久微电子有限公司，成立于2021年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本16544.959958万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉凌久微电子有限公司参与招投标项目265次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息150条，此外企业还拥有行政许可3个。

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