原粒半导体申请检测计算图中重复子图方法及装置专利，能够快速高效地检测出计算图中的重复的子图

国家知识产权局信息显示，原粒（北京）半导体技术有限公司申请一项名为“一种检测计算图中的重复子图的方法及装置”的专利，公开号CN 120973369 A，申请日期为2025年03月。

专利摘要显示，本申请提供了一种检测计算图中的重复子图的方法及装置。分别获取计算图中的各个节点的节点数据指纹；按照计算图中的节点的先后执行顺序，将计算图中的各个节点的节点数据指纹组成指纹数组；对指纹数组进行自相关计算，得到自相关值数组；根据自相关值数组，确定计算图中的两个重复子图的起始节点之间的节点偏移量；根据节点偏移量及指纹数组，在计算图中查找多个重复子图。

天眼查资料显示，原粒（北京）半导体技术有限公司，成立于2023年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本155.6642万人民币。通过天眼查大数据分析，原粒（北京）半导体技术有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息2条，专利信息12条，此外企业还拥有行政许可1个。

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