凌久微电子取得一种用于显卡测试的散热器结构专利，实现了对各种类显卡测试的通用性

国家知识产权局信息显示，武汉凌久微电子有限公司取得一项名为“一种用于显卡测试的散热器结构”的专利，授权公告号CN 223598197 U，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本实用新型涉及显卡测试技术领域，具体为一种用于显卡测试的散热器结构，包括散热板和位于散热板上安装的风扇，以及安装有与风扇相对的散热片，散热片通过锁紧部与散热板固定，所述散热板上开设有若干个调节孔，调节孔的一端朝向散热片的中心处，所述散热板通过定位部穿过调节孔与外部显卡固定，所述定位部包括位于调节孔中穿设并与外部显卡螺纹连接的螺栓。该用于显卡测试的散热器结构，通过散热板上增加了调节孔和定位部与不同定位孔结构的测试显卡进行连接时可以通过调节孔和定位部调节散热器的位置，匹配显卡上定位孔的位置，使得在测试显卡过程中操作更加方便快捷，减少了测试成本，实现了该散热器结构对各种类显卡测试的通用性。

天眼查资料显示，武汉凌久微电子有限公司，成立于2021年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本16544.959958万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉凌久微电子有限公司参与招投标项目265次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息172条，此外企业还拥有行政许可3个。

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