西安智多晶微电子申请FPGA芯片内部资源性能测试方法与系统专利，精准定位被测资源DUT的性能极限如最高工作频率

国家知识产权局信息显示，西安智多晶微电子有限公司申请一项名为“一种FPGA芯片内部资源性能测试方法与系统”的专利，公开号CN121070713A，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本发明公开了一种FPGA芯片内部资源性能测试系统及方法，属于芯片测试技术领域，该系统包括：被测资源；第一FIFO缓存单元；激励源，用于在慢时钟域下向第一FIFO缓存单元写入测试数据，以使第一FIFO缓存单元通过跨时钟域同步机制将测试数据传输至被测资源，进而使被测资源在快时钟域下对测试数据进行处理，生成输出数据；第二FIFO缓存单元，用于在快时钟域下接收输出数据，并通过跨时钟域同步机制将输出数据传输至慢时钟域的校验单元；校验单元，用于在慢时钟域下输出测试结果标志。本发明能够在不影响激励源和校验单元可靠性的前提下，仅针对被测资源DUT提高频率，从而精准定位被测资源DUT的性能极限如最高工作频率。

天眼查资料显示，西安智多晶微电子有限公司，成立于2012年，位于西安市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本3835.3201万人民币。通过天眼查大数据分析，西安智多晶微电子有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息100条，此外企业还拥有行政许可15个。

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