上海共进微电子申请MEMS器件测试数据处理方法专利，可从多维度全面评估测试系统性能

国家知识产权局信息显示，上海共进微电子技术有限公司申请一项名为“MEMS器件测试数据的处理方法、装置、设备和介质”的专利，公开号CN121501583A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了一种MEMS器件测试数据的处理方法、装置、设备和介质，该方法包括：获取测试数据文件；从所述测试数据文件中，按照至少一个设定解析维度，分别解析获取对应各维度的结构化测试数据序列；采用事件隔离窗口从所述测试数据序列中提取有效数据，形成有效数据序列；根据各个有效数据序列所对应的维度，确定测试分组；根据各所述测试分组的有效数据序列，计算所述测试设备的可靠性指标，可从数据离散程度、过程满足规格能力、测试系统测量可靠性等多维度全面评估测试系统性能，自动化的处理流程提高了MEMS器件测试数据处理的效率和准确性，确保及时发现测试环节问题，保障批量MEMS器件的测试质量。

天眼查资料显示，上海共进微电子技术有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16320万人民币。通过天眼查大数据分析，上海共进微电子技术有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息6条，专利信息37条，此外企业还拥有行政许可1个。

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