智微电子申请统计芯片设计功耗验证方法专利，对比实测与设计功耗差异优化建议

国家知识产权局信息显示，深圳智微电子科技股份有限公司申请一项名为“一种统计芯片设计功耗的验证方法”的专利，公开号CN121503364A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片设计领域，具体公开了一种统计芯片设计功耗的验证方法，包括步骤：优化验证用例，确认后端提供的网表与 SDF 文件一致且反标正常，设定网表仿真采用 TT corner，搭建高效仿真基础；启动网表仿真，结束后检查 setuphold、width 时序信息；通过宏开关控制波形 dump 启动时机；同一场景截取多份波形取平均，明确标记各波形的时间起始点；将波形文件及时间参数提供给后端，前端查时钟门控、数据翻转问题，后端查 LVT cell 比例、memory 电流问题，补充 merge 阶段集成的 IP 功耗数据；数据异常则返回，数据正常则进入下一步；芯片制造封装后，获取实测功耗数据，对比其与设计阶段评估功耗的差异，前后端联合输出功耗优化建议。

天眼查资料显示，深圳智微电子科技股份有限公司，成立于2016年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本6240万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳智微电子科技股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目123次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息114条，此外企业还拥有行政许可28个。

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