芯率智能申请芯片AFM检测顺序选择方法专利，能够智能识别并优先检测高风险点位

国家知识产权局信息显示，芯率智能科技（苏州）有限公司申请一项名为“芯片AFM检测顺序选择方法、系统、介质及程序产品”的专利，公开号CN121724959A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请涉及一种芯片AFM检测顺序选择方法、系统、介质及程序产品，方法包括获取待检测芯片的SEM图像；对SEM图像进行灰度分析以获得SEM图像的灰度信息；设定灰度预设阈值，基于灰度信息、灰度预设阈值生成可疑点位列表；对列表各个点位分配AFM检测优先级，包括：获取可疑点位的检测特征，检测特征包括可疑点位的功能区域、点位尺寸和点位分布密度；为功能区域赋予基础权重分；基于点位尺寸和点位分布密度对基础权重分进行加权调整；将经过加权调整后的分数映射到预定义的AFM检测优先级；根据AFM检测优先级生成AFM检测任务队列。本申请能够智能识别并优先检测高风险点位，从而优化AFM检测资源分配。

天眼查资料显示，芯率智能科技（苏州）有限公司，成立于2022年，位于苏州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1260.7245万人民币。通过天眼查大数据分析，芯率智能科技（苏州）有限公司共对外投资了5家企业，财产线索方面有商标信息2条，专利信息23条，此外企业还拥有行政许可2个。

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