中科微精申请扫描头参数调试方法及检测机构专利，可提高调试结果准确性

国家知识产权局信息显示，西安中科微精光子科技股份有限公司申请一项名为“扫描头参数调试方法及检测机构”的专利，公开号CN121912074A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及一种扫描头参数调试方法及检测机构，方法包括：1)上位控制软件向扫描头控制器以及图像采集传感器发出参数调试指令；2)根据参数调试指令进行参数调试，获取原始图像数据；3)将原始图像数据进行处理，得到扫描轨迹离散坐标与光斑尺寸信息；4)对扫描轨迹离散坐标进行拟合，得到扫描轨迹参数信息；5)将扫描轨迹参数信息以及光斑尺寸信息均发送至扫描头控制器进行缓存，得到第一组缓存数据；6)重复直至获取多组缓存数据；7)扫描头根据多组缓存数据完成参数调试。本发明具有自动化程度高、能支持各种参数的自整定以及可提高调试结果准确性的优点。

天眼查资料显示，西安中科微精光子科技股份有限公司，成立于2015年，位于西安市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本6294.239万人民币。通过天眼查大数据分析，西安中科微精光子科技股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目195次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息219条，此外企业还拥有行政许可39个。

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