上海共进微电子申请MEMS测试系统事件模拟显示方法专利，降低人工关联数据的成本与错误率

国家知识产权局信息显示，上海共进微电子技术有限公司申请一项名为“一种MEMS测试系统的事件模拟显示方法、设备及介质”的专利，公开号CN121935110A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种MEMS测试系统的事件模拟显示方法、设备及介质，该方法包括：从至少一个子系统分别采集日志数据；对各日志数据进行时间戳同步，并根据各日志数据确定沿时间线排列的至少一个事件，生成事件序列；从事件序列中确定目标事件；基于用户界面状态模型，根据目标事件对应的日志数据，重构目标事件发生时的用户界面，并进行显示，解决了多源日志的隔离状态与时间不同步的问题，自动建立事件因果链，降低人工关联数据的成本与错误率，缩短事件分析与故障诊断周期，降低设备停机损失，还能以可视化方式还原目标事件的完整操作上下文，降低了系统操作与维护的技术门槛，提升了根本原因分析的准确性、易用性与普适性。

天眼查资料显示，上海共进微电子技术有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16320万人民币。通过天眼查大数据分析，上海共进微电子技术有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息6条，专利信息43条，此外企业还拥有行政许可1个。

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