凌久微电子申请多显卡量产测试系统及测试方法专利，显著降低大规模量产测试的综合成本

国家知识产权局信息显示，武汉凌久微电子有限公司申请一项名为“一种多显卡量产测试系统及测试方法”的专利，公开号CN122044968A，申请日期为2026年1月。

专利摘要显示，本发明涉及显卡测试技术领域，提供了一种多显卡量产测试系统及测试方法，所述测试系统包括测试主机、处理器、PCIe链路切换模块、显示切换模块和显示模块；优选方案中还包括结果指示模块、监控模块等。除了测试主机、显示模块、监控模块等，其他模块集成在专用测试主板，本发明构建一套全新的多显卡量产测试解决方案，本旨在删除测试过程中的人工干预环节，实现多张待测显卡在单台主机上的全自动连续识别、切换与测试，从而在根本上提升硬件资源利用率、测试自动化水平与系统管理效率，显著降低大规模量产测试的综合成本。

天眼查资料显示，武汉凌久微电子有限公司，成立于2021年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本16544.959958万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉凌久微电子有限公司参与招投标项目156次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息193条，此外企业还拥有行政许可3个。

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