凌久微电子申请智能化批量显卡显示测试方法专利，可实现对多块显卡的并行、自动化、高精度的显示功能测试

国家知识产权局信息显示，武汉凌久微电子有限公司申请一项名为“一种智能化批量显卡显示测试方法”的专利，公开号CN122044965A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明属于显卡测试技术领域，提供了一种智能化批量显卡显示测试方法及系统，所述测试方法包括：根据显卡测试的视频片段历史数据，训练融合2D卷积神经网络和卷积长短期记忆网络ConvLSTM的图像识别模型，所述历史数据正常及异常显示的示例数据；启动测试后按照测试程序脚本下发测试指令，控制执行测试程序；收集产生的时序帧缓冲区数据和运行日志；利用训练好的图像识别模型，对接收到的时序帧缓冲区数据进行实时分析，判断显示内容是否正常，并输出判断结果。通过本发明方案，可实现对多块显卡的并行、自动化、高精度的显示功能测试，降低了人工成本。

天眼查资料显示，武汉凌久微电子有限公司，成立于2021年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本16544.959958万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉凌久微电子有限公司参与招投标项目156次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息193条，此外企业还拥有行政许可3个。

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