驿天诺科技申请硅光芯片自动耦合测试设备专利，显著提升耦合测试的对准精度

国家知识产权局信息显示，武汉驿天诺科技有限公司申请一项名为“一种硅光芯片自动耦合测试设备”的专利，公开号CN122882034A，申请日期为2026年6月。

专利摘要显示，本发明公开了一种硅光芯片自动耦合测试设备，属于硅光半导体技术领域，该设备包括：环境特征提取模块，根据耦合区域绝对温差等数据提取环境光学湍流特征；动态力学建模模块，基于折射率匹配液的粘度与表面张力等物理属性获取物理恢复时间基准值；空间姿态补偿模块，结合光纤端面研磨倾角等获取空间姿态补偿向量模长；适配系数联合模块，联合多项参数获取动态对准适配系数；光功率滤波模块，利用湍流特征提取有效光功率；步长调节模块，结合适配系数与有效光功率自适应调节对准探测步长；收敛判定模块，基于收敛置信度指数终止测试。本发明通过综合补偿环境湍流、流体力学及空间姿态误差，显著提升了耦合测试的对准精度与寻优效率。

天眼查资料显示，武汉驿天诺科技有限公司，成立于2009年，位于武汉市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本1574.945万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉驿天诺科技有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目14次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息54条，此外企业还拥有行政许可4个。

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